型号/规格

JSM7500F

购置时间

2010年

简介

JSM-7500F的相差小，图像分辨率高，特别是在低电压下仍保持很高的分辨率，适合于材料表面的高分辨图像观察；由于束流较低，尤其适合一些热敏性材料的表面形貌测试。

指标参数

技术参数：

1. 分辨率：1.0nm（15kV）/1.4nm（1kV）

2. 加速电压：0.1-30Kv

3. 放大倍数：25-100万

4. 样品室尺寸：最大直径可达20cm

5. 束流强度：10^-13-2*10^-9。

主要应用

主要用于1、观察固体材料的形貌，形态图像（二次电子探测器SEI）-形貌分析（表面几何形态、形状、尺寸）；2、显示化学成分的空间变化，基于化学成分的相鉴定---化学成分像分布，微区化学成分分析：（a）结合附件EDS或WDS采集特征X射线，生成与样品形貌相对应的元素面分布图，或定点化学成分定性定量分析；（b）利用背散射BSE基于平均原子序数（一般和相对密度相关）的差异，生成化学成分像的分布图像。

样品要求

1、严禁任何有磁性或者能被磁化的样品进入样品室，隐瞒样品真实情况，后果自负；不了解样品情况的先确定样品成分再进行SEM测试；

2、样品化学性质稳定；

3、样品干燥无污染。

不接受磁性样品原因

JSM7500F的物镜是电磁透镜，磁性样品存在被吸到镜筒里的风险，对SEM 造成无法估量的严重后果。

放置地点

橡塑材料教育部重点实验室104房间

负责人及联系方式

程俊梅：13791905430

崔玉香：18562786589