型号/规格

ESCALAB Xi+

购置时间

2018.07.26

简介

ESCALAB Xi+配备了微聚焦单色化X射线源，提供最佳的XPS分析性能，X射线光电子能谱仪能满足大吞吐量样品测试需求多技术能力、一系列灵活的样品制备室及样品处理设备。利用先进的 Avantage 数据采集和处理系统，从测试数据中挖掘尽可能多的信息。

指标参数

1） 小面积XPS测量，180°   能量分析器，其平均半径为150mm，检测能量范围0～5000eV。

2） XR6微聚焦单色化XPS (Al Kα)装置：大面积双石英晶体，300W，900-20μm；

3） EX06离子束刻蚀枪：100～4000eV，400μm～1mm，最大刻蚀电流6μA

主要应用

对固体样品表面进行元素定性、定量分析，元素价态分析；XPI平行化学成像功能、微区回溯成谱；紫外光电子能谱分析材料能带结构、电子态密度；可对样品深度剖析，配有离子刻蚀、角分辨XPS，离子散射能谱，反电子能量损失谱等

样品要求

1) 粉末样品：需要20mg以上的干燥的粉末样品

2) 固体样品：任一边长不大于1cm，厚度不超过2mm

3) 特殊形状请提前咨询，如样品有磁性或有易挥发物质（如卤素单质、硫单质、有机溶剂等）请提前告知。

4）送样请标注需测元素，样品标号；学生姓名、导师姓名、学生电话及邮箱等详细信息

放置地点

四方校区 第一实验楼125

负责人及联系方式

逄贝莉 18561356983