为促进先进分析技术对学校学科发展助力，分析测试中心拟于2022年4月19日（周二）下午14:30-15:30邀请蔡司公司技术工程师周宁宁为学校广大师生在线做“X射线显微表征应用”技术分享。鉴于疫情防控要求，交流以在线形式进行，欢迎各位老师、同学们参加。

会议主题：X射线显微镜（CT）应用及技术交流会

会议时间：2022年4月19日（周二） 14:30-15:30

腾讯会议号码：755 821 288

报告简介：

1.  X射线显微镜在材料及相关领域的应用进展

2.  X射线显微镜的基本原理、技术发展现状

3.  X射线显微镜研究热点技术分享