型号/规格

JSM-6700F650,000倍30kV

购置时间

2003

简介

本设备为冷场发射扫描电子显微镜，可提供高分辨率电镜照片，放大倍率由几十倍到几十万倍连续可调，可提供二次电子像和背散射电子像。其中，二次电子像具有分辨率高，适用于表面结构表征。背散射电子像可表征具有不同原子序数物质的分布情况，可对陶瓷、金属或合金等材料的显微结构进行分析。

指标参数

1、分辨率：二次电子像1.0 nm(15kV)/2.2 nm(1kV)

2、放大倍数：×25-650,000

3、加速电压：0.5~30 kV

4、电子枪：冷场发射型电子枪

5、电子束电流：10^-13A~10^-9A

6、试样更换室：150 mm

主要应用

主要应用于粉体、固体材料表面形貌结构的观察与表征，可广泛应用于生物材料、无机材料、纳米材料、金属材料和高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断口分析、失效分析等方面。

样品要求

样品类型：各类无机、金属和有机样品（磁性样品除外）粉末、块体样品等。

尺寸要求：最大直径小于26 mm，高度小于10 mm。

放置地点

材料学院楼201

负责人及联系方式

张乾    13336390580