型号/规格

JEM-2100PLUS     Oxford XMAX系列-80T能谱仪

购置时间

2015年10月

简介

该电镜主要用于各种材料显微形貌分析以及结晶材料高分辨电子显微分析。能谱仪可以对样品进行元素的分析。

指标参数

1、点分辨率0.19nm

2、线分辨率0.14nm

主要应用

TEM，HRTEM，EDS。

样品要求

只接受常规分散好的样品和易分散的样品，特殊溶剂分散的样品须自行分散好，有毒溶剂分散样品不接受。

放置地点

四方校区第二实验楼105

负责人及联系方式

蔺玉胜  13465320278